東京工業大学 理工学研究科 化学専攻　榎・木口研究室
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SQUID磁束計 (MPMS-7)

温度範囲 1.9K 〜 400K
磁場範囲 0T 〜 7T
備考 DC帯磁率のみ。
連続低温オプションつき

高感度磁化率測定装置ユーザー募集のお知らせ

電子スピン共鳴装置 (JEOL TE-200, Oxford ESR910)

マイクロ波 X-band (9GHz)
磁場可変範囲 残留磁場 〜 1.3 T
温度可変範囲 3K〜 280 K

装置利用を受け付けております。
管理人 までメールにてご相談ください。

超伝導マグネット

磁場可変範囲 0T 〜 ±15 T (±17 T)
温度可変範囲 0.3 K(3He Helioxインサート使用時) 〜 室温
角度回転機構取付可能

STM・AFM

  環境

温度可変範囲

1号機(LT−STM)　 超高真空

室温・77 K, 4.2 Kの3点

2号機(LT−STM)　 超高真空

2K〜室温

3号機(NC-AFM) 超高真空 室温
JEOL1号機（NC-AFM） 超高真空

30K 〜 900K
JEOL2号機（NC-AFM） 超高真空 30K 〜 900K
JEOL3号機（STM）　 超高真空 30K 〜 900K
OMICRON（NC−AFM） 超高真空 70K 〜 室温
電気化学STM　 溶液 室温

パルスレーザー蒸着装置

微細加工設備

標準装備品：プラズマエッチング装置、フォトリソマスクアライナ、真空蒸着装置、ドラフト

金単結晶蒸着装置（SEED Lab.社製）

真空度 1X10-6 Pa以下
試料サイズ 4インチホルダ

単分子の電気伝導度計測装置

  温度可変範囲
１号機 10〜300Ｋ 　　
２号機　 100 K 〜 室温　　

走査電子顕微鏡　(JEOL JSM-6390 )

加速電圧

0.5k 〜 30kV
倍率 5 〜 50,000倍

表面分析装置

標準装備品

LEED, RHEED, Knudsen cell, 電子アナライザ、
ツインアノードX線源、イオン銃